高誘電率系のセラミックコンデンサをLCRメーターで測定する際、公称容量通りの値が得られない場合がございます。高誘電率系セラミックコンデンサの静電容量は、温度、電圧(AC, DC)、周波数や経時変化によって変化するため、公称静電容量を得るためには下表1. 公規格 JIS C 5101-1-1998の静電容量(4.7項)に規定されている測定条件に基づき測定して頂く必要がございます。
セラミックコンデンサは小型、低インピーダンス、極性がない等の特徴を有していますが、その半面、温度や電圧(DC, AC)、周波数や経時変化により静電容量が変化するデメリットもございます。
3216(in mm)サイズ、10uFのB特性とF特性を例に挙げ、静電容量の測定に影響する各種特性について以下に示します。
図1．温度特性 ※温度変化により静電容量が変化します。
図2．DCバイアス特性 ※DCバイアスにより静電容量が変化します。
図3．AC電圧特性 ※AC電圧により静電容量が変化します。
図4．周波数特性 ※周波数帯域により静電容量が変化します。
図5．エージング特性 ※経時変化により静電容量が変化します。
以上のように、高誘電率系セラミックコンデンサの静電容量は、温度や電圧(DC, AC)、周波数や経時変化により変化します。静電容量の測定時には上記規定の測定条件で測定して頂く必要がございます。また回路設計の際は使用環境条件におけるセラミックコンデンサの特性を十分に考慮してご使用ください。
温度特性や顿颁バイアス特性、础颁电圧特性、インピーダンスなどの主要なデータが设计支援ツール"厂颈尘蝉耻谤蹿颈苍驳"でご确认いただけます。
厂颈尘蝉耻谤蹿颈苍驳の使い方
※設計支援ツールでは、高誘電率系セラミックコンデンサのDCバイアス電圧 / 温度に応じた特性データの表示、ダウンロード機能を提供しています。
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> 積層セラミックコンデンサにおける温度特性やDCバイアス特性、AC電圧特性、インピーダンス/ESRなどの周波数特性、リップル発熱特性などの主要な電気特性データをください。また、そのデータをCSV形式で提供可能でしょうか。
> 積層セラミックコンデンサの測定条件（周囲温度や交流の印加電圧）を変えた場合のDCバイアス特性データをください。（例：40℃, 10mVrmsのDCバイアス特性データ）
> 積層セラミックコンデンサの測定条件（直流/交流の印加電圧）を変えた場合の温度特性データをください。（例：3VDC, 10mVrmsの温度特性データ）
> 積層セラミックコンデンサの測定条件（周囲温度や直流の印加電圧）を変えた場合の周波数特性データをください。（例：40℃, 3VDCの周波数特性データ）
> 積層セラミックコンデンサの電気特性データシートをください。また複数品番の比較データをください。