导电性高分子アルミ电解コンデンサは、周囲の温度や湿度などの使用条件によりゆっくりと劣化します。
具体的には、内部构成部材である酸化アルミニウム（诱电体）、および导电性高分子、カーボンペーストなどの有机成分の电気化学反応によって、静电容量の减少、贰厂搁の増加となって现れます。
エージングによる静电容量の减少と贰厂搁の増加は、模式図的には下図のように、电気化学反応にて生じた生成物により电极の活性面积减少や层间の接触面积减少によって引き起こされます。
このように、一定数贰厂搁や静电容量が劣化した状态をコンデンサの寿命と定义すると、その寿命に达するまでの时间の推定も可能です。
温度依存性については反応速度论すなわちアレニウス则に従い、电圧依存性についてはアレニウス则から拡大したアイリング则に基づきます。
ムラタでは、この信頼性ロジックに基づいてオリジナルの推定寿命计算シミュレーションツールをご提供しています。
このシミュレーションによって実际の使用环境下における静电容量/贰厂搁の劣化度合いを予测し、设计に反映していただくことが可能です。